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     降压电容器选型

       针对现在电子产品成本压力和体积的要求越来越小。在电路应用上，阻容降压这种低成本，小体积的电路得到广泛的运用。降压电容器在电路中起到关键的作用。电容器容量的稳定性，失效模式是选择降压电容器的重点。

       一．电容器容量的稳定性是电路运行的基础。阻容降压电容是利用电容器的容抗进行降压的。电路中的容抗Xc为:

      Xc=1 /（2 πf C） (1)
      流过电容器的充电电流（Ic）为：
      Ic = U / Xc （2）
      将公式（1）带入公式（2）得：
      Ic = U / Xc= U*2 πf C

      容量与电流成正比，容量下降即输出电流下降，最后导致电器无法正常工作。

      电容器串联在电路中，承受着交流电流的冲击。为了检验其容量的稳定性，采用大电流冲击测试可以提前测试出容量衰减的状况。现将聚酯电容器和我司的电容器进行连续短路放电对比试验，实验电压600VDC,短路放电20次；实验前后测试容量和DF值（测试设定1.0KHz,电平1.0Vrms），实验结果如下:

      聚酯T型安全薄膜684J450V测试后容量变化平均值-33.96%，最大容量变化值-52.29%，DF值超过标准值0.0100；

      CSD提供MPR684J400V,容量和DF值近似无变化。

      聚酯T型安全薄膜564J450V测试后容量变化平均值-32.83%，最大容量变化值-40.899%，DF值超过标准值0.0100；

      CSD提供MPFC564J450V,容量和DF值近似无变化。

      测试结果及解剖分析：

      684J450V芯子，确认采用的薄膜蒸镀电极结构为直板TD安全型，边沿无加厚。查看安全保险丝无动作。喷金接触区有放电现象。

      由此证明以上设计不适合用于阻容降压电路。此种结构可用于低电流高电压环境，且电流变化较小的电路如滤波电路等。

      二．电容器失效模式测试

      无限制施加电压和电流，两种电容器都会击穿融化，最后为开路状态，即失效模式为开路。（安全膜结构并不能保证薄膜不会击穿，电容器同样会熔融爆裂。）

      聚酯薄膜电容器与聚丙烯薄膜电容器对比，聚酯薄膜电容器内部温升高(即电容器自身发热量大)；DF值比聚丙烯薄膜电容器大10倍；DF值和容量随温度的升高而升高，且变化远大于聚丙烯薄膜电容器。